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[转帖] MOS ESD

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发表于 2023-12-11 15:54:38 | 显示全部楼层 |阅读模式
Mos管做esd时,要求漏端到poly的距离大于源端。原因解释如下:
  增到漏极的con到gate的间距,作用1:增加各个单元的分布式镇流电阻、让整个ESD mos管更均匀的导通。作用2:在ESD电流泄放的时候,电流是通过D往S、sub跑的,此时D-sub结上有电压、大电流,就会有大功耗、发热,短时间足以使D-sub结区域的体硅温度升高到使con融化的高温(也就是450都左右即可)。加大漏极的con到gate的间距,可以使con远离发热区。作用3:拉大漏区可以增大漏区电阻,这样寄生的BJT可有更高的点位,使BJT导通,可以更快的泄放掉漏端的大电流。
为什么源极孔到gate的间距不需要加大这么多呢?
因为源极到发热的D-sub结间有低浓度的沟道区,导热系数较低;相反的漏极孔到D-sub结是高浓度漏区,甚至是有salicide(硅化物)导热系数大得多。
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工程师助理

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发表于 2023-12-30 14:20:26 | 显示全部楼层
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